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电子元器件快速温度变化试验箱
参考价:¥45200

型号:TEB-408PF

更新时间:2024-09-02  |  阅读:249

详情介绍


TEB-408PF 电子元器件快速温度变化试验箱主要用途在于对电子元器件进行严格的温度快速变化测试。


其特点包括:精准控温,能迅速且稳定地实现温度的大幅度切换;拥有较大的内部空间,可容纳较多的电子元器件同时进行测试;具备制冷和加热系统,确保温度变化的高效性和准确性;采用智能化的控制系统,操作简便,能实时监控和记录测试数据;具备良好的密封性和隔热性能,减少能量损耗,降低运行成本。


电子元器件快速温度变化试验箱

主要用途:

快速变化试验箱是在产品达到设计强度极限,运用温度加速技巧(于上、下限极值温度内进行循环,致使产品交替膨胀和收缩)来改变外在环境应力,让产品产生热应力和应变。通过加速应力促使潜存于产品中的瑕疵显现出来,从而避免该产品在使用过程中,因受到环境应力的考验而失效,造成不必要的损失。这对于提高产品出货良率以及降低返修次数有着显著的效果。

高低温快速变化试验箱具体参数

型号

TEB-225PF

TEB-408PF

TEB-600PF

TEB-225PF

TEB-1000PF

内容量(L)

225

408

600

800

1000

A:0℃~+150℃  B:-20℃~+150℃  C:-40℃~+150℃  D:-60℃~+150℃ E:-70℃~+150℃

测试室尺寸WxDxHcm

50x60x75

60x80x85

80x80x90

80x80x90

100x100x100

外形尺寸WxDxHcm

85x150x203

 95x170x213

115x185x218

125x175x218

125x185x218

温度范围

                          -20~+150℃

温度波动范围

±0.3℃~(-20~+100℃) ±0.5℃~(+100.1~+150℃±2.5%rh

温度均匀性

±1.0℃~(-20~+100℃) ±1.5℃(+100.1~+150℃)  ±1.5℃(-20~+100℃)±2.0℃(100~+150℃)

升温时间

非线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)线性升温速率 (5℃/10℃/15℃/20℃)

降温时间

非线性降温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)线性降温速率(5℃/10℃/15℃/20℃)

外壳材料

防锈处理冷轧钢板+2688粉体徐装或SUS304不锈钢

内体材料

不锈钢板 (SUS304CP种2B制光处理)

绝缘材料

硬质聚氨酯泡沫料(箱体用)玻璃棉(箱门用)

制冷方式

机械式双级压缩制冷方式(气冷冷凝器或水冷换热器)

制冷机

法国“泰康"全封密压缩机或德国“比泽尔"半封密压缩机

制冷机容量

3.0HP*2

3.0HP*2

4.0HP*2

5.0HP*2

5.0HP*2

膨胀机构

电子式自动膨胀阀方式或毛细管方式

压缩机冷却方式

风冷或水冷、冷水机

加热器

镍铬合金电热丝式加热器

箱内搅拌用鼓风机

雨田电机120W

电源规格

                       380V AC3Φ4W 5060Hza

AC380V

21A

21A

23A

24.5A

28A

重量(kg)  

380

400

400

480

500

备注: 高低温快速变化试验箱可根据客户要求尺寸来订制,满足客户的要求 





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