型号：HT-TEB-600PF
更新时间：2024-09-24 | 阅读：216
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快温变试验箱采购了解区
主要用途： 高低温湿热快速温度变化试验箱是产品在设计强度极限下，运用温度加速技巧(在上、下限极值温度内进 行循环时，产品产生交替膨胀和收缩)改变外在环境应力，使产品中产生热应力和应变，透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现，以避免该产品于使用过程中，受到环境应力的 考验时而导致失效，造成不必要的损失，对于提高产品出货良率与降低返修次数有显注的效果。
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具体参数 | |||||||||
型号 | TEB-225PF | TEB-408PF | TEB-600PF | TEB-800PF | TEB-1000PF | ||||
内容量(L) | 225 | 408 | 600 | 800 | 1000 | ||||
H:0℃~+150℃ C:-20℃~+150℃ L:-40℃~+150℃ U:-60℃~+150℃J:-70℃~+150℃ | |||||||||
测试室尺寸WxDxHcm | 50x60x75 | 60x80x85 | 80x80x90 | 80x80x90 | 100x100x100 | ||||
外形尺寸WxDxHcm | 85x150x203 | 95x170x213 | 115x185x218 | 125x175x218 | 125x185x218 | ||||
温度范围 | -20~+150℃ | ||||||||
温度波动范围 | ±0.3℃~(-20~+100℃)±0.5℃~(+100.1~+150℃±2.5%rh | ||||||||
温度均匀性 | ±1.0℃~(-20~+100℃)±1.5℃(+100.1~+150℃) ±1.5℃（-20~+100℃）±2.0℃(100~+150℃) | ||||||||
升温时间 | 非线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃) | ||||||||
降温时间 | 非线性降温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)线性降温速率(5℃/10℃/15℃/20℃) | ||||||||
外壳材料 | 防锈处理冷轧钢板+2688粉体徐装或SUS304不锈钢 | ||||||||
内体材料 | 不锈钢板 (SUS304CP种2B制光处理) | ||||||||
绝缘材料 | 硬质聚氨酯泡沫料(箱体用)玻璃棉(箱门用) | ||||||||
制冷方式 | 机械式双级压缩制冷方式(气冷冷凝器或水冷换热器) | ||||||||
制冷机 | 法国“泰康"全封密压缩机或德国“比泽尔"半封密压缩机 | ||||||||
制冷机容量 | 3.0HP*2 | 3.0HP*2 | 4.0HP*2 | 5.0HP*2 | 5.0HP*2 | ||||
膨胀机构 | 电子式自动膨胀阀方式或毛细管方式 | ||||||||
压缩机冷却方式 | 风冷或水冷、冷水机 | ||||||||
加热器 | 镍铬合金电热丝式加热器 | ||||||||
箱内搅拌用鼓风机 | 雨田电机120W | ||||||||
电源规格 | 380V AC3Φ4W 5060Hza | ||||||||
AC380V | 21A | 21A | 23A | 24.5A | 28A | ||||
重量(kg) | 380 | 400 | 400 | 480 | 500 | ||||
备注: 可根据客户要求尺寸来订制，满足客户的要求 | |||||||||
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二、设备在产品测试中的重要性
模拟实际工况
半导体器件在实际应用中常常会经历快速的温度变化，线性快速温变试验箱能够准确地模拟这种环境，使测试结果更接近实际使用情况。
可以帮助企业提前发现产品在实际使用中可能出现的问题，降低产品的返修率和售后成本。
加速老化测试
通过快速的温度变化，可以在较短的时间内模拟半导体器件在长期使用过程中的老化过程。这有助于缩短产品的研发周期和质量检测时间。
可以快速筛选出可靠性较低的产品，提高生产效率和产品质量。
精确控制测试条件
试验箱可以精确控制温度变化的速率、幅度和持续时间等参数，确保测试结果的准确性和可重复性。
可以根据不同的测试需求进行定制化的测试方案，满足各种半导体器件的测试要求。
提高产品可靠性
通过对半导体器件进行严格的快速温变测试，可以筛选出具有较高可靠性的产品，提高产品的市场竞争力。
可以为客户提供可靠的产品保证，增强客户对企业的信任度。
优化产品设计
根据测试结果，企业可以了解半导体器件在不同温度条件下的性能变化规律，从而优化产品的设计和制造工艺。
可以提高产品的性能和可靠性，满足市场对高品质半导体器件的需求。
原理及作用
高低温湿热快速温度变化试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域的测试设备，用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
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