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冷热冲击试验箱-40-150°C
参考价:¥85420

型号:TSD-252F-3P

更新时间:2025-05-15  |  阅读:28

详情介绍

冷热冲击试验箱-40-150°C宽温域覆盖:
低温可达 - 70℃,高温可达 + 150℃~+200℃,满足不同材料对极限温度的耐受性测试。



快速温变切换:
三箱式结构(高温箱、低温箱、测试箱)可实现 8~15 秒内高低温切换,温变速率达 60℃/min。



冷热冲击试验箱-40-150°C


 冷热冲击试验箱-40-150°C高精度控制与均匀性

温度控制精度:
波动度≤±0.5℃,均匀性≤±2℃,采用 PID 神经网络算法或 PLC 可编程控制器,确保数据可靠性。


湿度扩展功能:
支持 10%~95% RH 湿度模拟,满足湿热冲击复合环境测试(如 GB/T 2423.34 标准)。


 

冷热冲击试验箱-40-150°C



结构设计与可靠性

多箱式独立结构:
三箱式避免高低温气体混合,延长设备寿命;两箱式成本较低,适合中小型企业(如手机零部件测试)。

抗干扰与安全防护:
配备超温保护、漏电保护、压缩机过载保护等多重安全机制;机型需通过抗震、抗电磁干扰设计(如 GJB 150A 标准)。


冷热冲击试验箱-40-150°C


智能化与扩展性

数据记录与分析:
标配 RS485/USB 接口,可实时记录温度曲线、生成测试报告,支持 LIMS 系统对接(实验室信息管理系统)。

定制化功能:
支持多气路通入(如氧气、氮气)、真空环境模拟,或集成振动台实现三综合测试(温度 + 湿度 + 振动)。


冷热冲击试验箱-40-150°C

能效与维护

  • 节能设计:
    双蒸发器技术(高温区与低温区独立制冷)降低能耗 30% 以上,部分机型配备余热回收系统。

  • 易维护性:
    模块化设计便于更换压缩机、传感器等核心部件,支持远程故障诊断与固件升级。




应用领域与典型场景

电子与半导体行业

  • 测试对象:
    芯片、PCB 板、电子元器件(电容 / 电阻)、连接器、传感器。

  • 核心需求:

    • 验证芯片在 - 40℃~+85℃汽车电子环境下的可靠性(AEC-Q100 标准)。

    • 检测 PCB 板焊点在温度冲击下的开裂风险(如 iPhone 主板需通过 1000 次循环冲击测试)。


    • 冷热冲击试验箱-40-150°C


汽车与新能源行业

  • 测试对象:
    动力电池包、车载电子设备、电机控制器、线束组件。

  • 核心需求:

    • 电池包需通过 - 30℃低温充电与 + 55℃高温放电的循环冲击(UN38.3、ISO 12405 标准)。

    • 电机控制器需模拟发动机舱 + 125℃高温与雨天 - 10℃的快速切换。



航空航天

  • 测试对象:
    航空电子设备、复合材料部件(碳纤维 / 铝合金)、制导系统。

  • 核心需求:

    • 设备需满足 GJB 150.5A 标准,温变速率≥50℃/min,模拟高空与发动机尾流的瞬态冲击。

    • 卫星部件需测试 - 100℃太空低温与 + 150℃太阳辐射的循环(热真空环境模拟)。



材料与化工行业

  • 测试对象:
    塑料 / 橡胶制品、涂料、胶粘剂、金属合金。

  • 核心需求:

    • 评估塑料外壳在 - 20℃~+60℃下的抗脆化性能(如户外家电外壳)。

    • 检测胶粘剂在温度冲击下的粘结力衰减(如汽车挡风玻璃胶)。



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