冷热冲击试验箱两箱式耐候性典型技术参数
| 参数类型 | 常见范围 | 备注 |
|---|
| 高温箱温度 | +60℃~+150℃ | 升温速率通常≥5℃/min |
| 低温箱温度 | -60℃~-10℃ | 降温速率通常≥5℃/min |
| 温度冲击恢复时间 | ≤5min（从冲击结束到温度稳定） | 取决于箱体容积和样品负载 |
| 温度均匀度 | ±2℃（高温箱）/±3℃（低温箱） | 衡量箱内温度一致性的关键指标 |
| 冲击循环次数 | 可自定义 | 用于长期可靠性测试
|
冷热冲击试验箱两箱式耐候性设备定义与核心功能
两箱式冷热冲击试验箱是一种用于模拟温度突变环境的可靠性测试设备，通过在高温箱和低温箱之间快速切换，对被测样品施加瞬间的温度冲击，以评估材料、零部件或整机在温度急剧变化下的性能稳定性、结构可靠性及耐候性。其核心优势是温度冲击速度快、测试效率高，广泛应用于电子、航空航天、汽车、通讯等对环境适应性要求高的行业。
结构与工作原理
结构组成
典型应用
电子行业：芯片、PCB 板、连接器等在温度突变下的焊接可靠性测试；
汽车行业：传感器、车载电子设备的耐高低温冲击性能验证（符合 ISO 16750-4 等标准）；
航空航天：零部件在温差环境下的结构稳定性测试（如卫星设备、航空仪表）。
参考标准
国标：GB/T 2423.22《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 N：温度变化》；
国际标准：IEC 60068-2-14《环境试验 第 2-14 部分：试验 试验 N：温度变化》；
行业标准：GJB 150.5《设备环境试验方法 温度冲击试验》。
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