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冷热冲击试验箱独立控制
参考价:¥154858

型号:TSD-252F-3P

更新时间:2025-07-30  |  阅读:103

详情介绍

冷热冲击试验箱独立控制技术参数

温度范围

高温区:60℃至+150℃。

低温区:-10℃至-60℃。



温度波动与恢复

  1. 波动度:±0.5℃至±2.0℃。

  2. 恢复时间:5分钟内完成。

  3. 转换时间:风门切换≤10秒(部分型号≤8秒)。

冷热冲击试验箱独立控制



结构与性能

  1. 结构:分为高温区、低温区、测试区三部分,采用蓄热/蓄冷结构及强制风路切换。

  2. 样品承载:单个样品架负载≤30kg,部分型号支持20kg。

  3. 制冷方式:风冷或水冷复叠制冷,压缩机多为法国泰康或比泽尔品牌。


冷热冲击试验箱独立控制


电气与控制

  1. 电源:AC380V 3相5线制,频率50Hz±5%。

  2. 控制器:TEMP8226S或TN1300系列,支持PID控制、模糊算法及曲线记录。

冷热冲击试验箱独立控制


冷热冲击试验箱独立控制满足标准

  1. 国际标准

    • IEC:IEC68-2-14(温度变化试验)、IEC60068-2-14(温度冲击试验)。

    • MIL-STD:MIL-STD-883E、MIL-STD-202F(温度循环试验)。

    • JIS:JIS C 0025(电子零部件测试)。

  2. 国内标准

    • GB/T:GB/T2423.1-2008(低温试验)、GB/T2423.2-2008(高温试验)、GB/T2423.22-2012(温度变化试验)。

    • GJB:GJB150.5A-2009(温度冲击试验)、GJB360B-2009(环境试验)。

  3. 行业标准

    • 汽车/航空:QC/T17-92(汽车零部件耐候性试验)、GJB150.3-86(设备试验)。

    • 电子/半导体:EIA364-32(电连接器环境测试)、IPC-2.6.7(PCB可靠性测试)。


冷热冲击试验箱独立控制


应用领域

  1. 工业领域

    • 电子与半导体:验证电子元器件、IC芯片、BGA封装的耐温性能。

    • 汽车电子:测试汽车零部件(如传感器、控制器)在温度下的可靠性。

  2. 材料与制造

    • 金属与塑料:评估材料在冷热交替环境下的物理性能变化。

    • 化工与高分子材料:检测化学物质在温度冲击下的稳定性。


  3. 其他领域

    • 通信设备:验证通信模块在高温低温切换中的信号稳定性。

    • 医疗设备:测试在运输或储存过程中的耐温性能。

冷热冲击试验箱独立控制


注意事项

  • 参数差异:不同型号的试验箱参数可能因设计需求而异,具体需参考产品规格书。

  • 安全限制:禁止测试易燃、易爆、腐蚀性物质或生物样本。

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