冷热冲击试验箱集成电路反复高低温稳定设备

引言

在当今科技飞速发展的时代，集成电路作为现代电子设备的核心基石，其可靠性和稳定性直接关系到众多领域的技术应用和产品质量。集成电路在实际工作环境中，不可避免地会面临各种温度变化，从寒冷的极地环境到炎热的沙漠条件，或者是设备频繁启动和关闭带来的温度骤变。

为了确保集成电路能够在这些复杂多变的温度环境下稳定运行，冷热冲击试验箱应运而生。这种专门用于集成电路反复高低温测试的稳定设备，犹如一把精准的度量尺，能够模拟出集成电路在实际使用中可能遭遇的极-端温度变化场景，从而对集成电路的性能进行全面且深入的检验，这对于保障集成电路的质量、推动电子行业的发展具有至关重要的意义。

TSD-50F-3P 皓天冷热冲击试验箱的技术参数如下：

容积与尺寸：

内容积：50L。

内型尺寸：W400×H350×D350mm。

外型尺寸：W1250×H1450×D1320mm。

温度范围：

高温测试区：高温室温度范围为 + 60℃→+180℃。

低温测试区：温度范围为 - 60℃～-10℃。

温度冲击范围：（+60～+150）℃（热冲）；低温可至（-65～-10）℃（冷冲）。

温度性能：

温度稳定性：±0.5℃。

温度均匀度：±2.0℃。

升温时间：升温 + 20℃→+180℃≤25min（高温室单独运转时性能）。

降温时间：降温 + 20℃→-60℃≤60min（低温室单独运转时性能）。

制冷系统：

工作方式：机械压缩二元复叠制冷方式。

制冷压缩机：全封闭式活塞压缩机（法国泰康）。

制冷剂：R404a/R23（臭氧耗损指数为 0）。

其他配置：

控制器：彩色触摸屏 TFT（8226S）中英文显示器 PLC（控制软件）温控模块。

结构方式:预热室、预冷室与制冷机组一体式.高温与低温切换分别由气缸阀门自动控制。

材料构成：1.外壁材料：冷轧钢板静电双面喷塑 2.内壁材料：SUS304 不锈钢板 3.绝热材料：100mm 玻璃棉保温层

结构强度：试验箱承重能力：≤100Kg（均匀负载）

大 门：全开单翼型箱门一扇，带门锁门框两道硅橡胶密封条,低温室门框防结露电热装置

观察窗：门上有 1 个多层观察窗，低温室门上观察窗带镀膜加热以防止其冷凝和结霜

冷凝出水孔：具有工作室冷凝水和机组凝结水的引出孔

溢流孔：箱体后部居下位置设有一溢流孔，以便于冷凝水的流出

照明灯：工作室顶部设低压照明灯，控制屏开关控制

冷热冲击试验箱集成电路反复高低温稳定设备

综上所述，冷热冲击试验箱作为集成电路反复高低温稳定设备，在集成电路的研发和生产过程中起到了不可替代的作用。

它能够通过模拟各种极-端温度环境，有效地检测出集成电路在高低温反复冲击下可能出现的潜在缺陷，如电气参数漂移、焊点开裂、封装材料老化等问题，从而保障了集成电路在实际应用中的可靠性和稳定性。随着电子技术的不断创新和发展，对集成电路的性能要求将越来越高，冷热冲击试验箱也必将在技术上不断完善和进步，持续为集成电路产业的蓬勃发展保驾护航。